X ışını kristalografisi, kristal örneklerden elde edilen X ışını kırınım verileriyle atomik yapıyı araştıran deneysel yöntemdir. Kristaldeki elektron yoğunluğunun ışınımla etkileşimi, farklı doğrultularda ölçülebilen kırınım şiddetleri üretir. Bu ölçümlerden hesaplanan elektron yoğunluğu ve oluşturulan yapısal modeller, atomların üç boyutlu düzeninin belirlenmesini sağlar. Kristalografi daha geniş bir bilim alanıyken bu yöntem özellikle X ışınlarından yararlanır.[1]
VERİDEN YAPI MODELİNE
Tek kristal deneylerinde örnek, ışın demeti içinde farklı yönelimlere getirilir ve kırınım verileri bir algılayıcıyla kaydedilir. Bilgisayar destekli çözümleme ve iyileştirme işlemleriyle atom konumları ve hareketlerine ilişkin parametreler hesaplanır. Ölçülen şiddetlerden yapı elde etmek yalnızca bir görüntüyü okumak değildir; faz bilgisiyle ilgili çözümleme sorunları ve deneysel düzeltmeler de sürece girer. Kristal kusurları, düzensizlik ve atomların ısıl hareketi saçılma verilerini etkileyebilir.[1]
TOZ ÖRNEKLER VE MİNERALLER
Toz X ışını kırınımında çok sayıda küçük kristalin ortak deseni incelenir. USGS laboratuvarlarında yöntem mineral tanımlama ve mineral bileşenlerinin nicel değerlendirilmesinde kullanılır. Rietveld iyileştirmesi, ölçülen desenin bir yapısal modelle karşılaştırılarak değerlendirilmesini sağlayan yaklaşımlardan biridir. Böylece yöntem, tek kristal yapı araştırmalarının yanında mineral karışımlarının incelenmesine de hizmet eder.[2]